正材料识别(PMI)是通过各种非破坏性方法的分析和识别材料的术语。PMI能够确定材料的合金组合物,并且是一种良好的技术,可以使用手持设备或实验室在该领域中进行。
PMI是一个有效的工具,在某种情况下,无论出于何种原因,组件的材料证书已被误认,销毁或否则丢失。重要的是要确保建筑中使用的材料根据设计要求,因此PMI通常在施工完成后进行。它可以在任何情况下用于组分的材料组成的不确定性。
有几种无损检查(NDE)可用于PMI的方法。X射线荧光(XRF)和光发射光谱(OES)中的两个更受欢迎。
XRF通过将要测试的材料暴露于X射线来工作,使材料发射其自身的次级X射线。由任何特定材料发出的X射线的水平总是基于该材料的组成的一致。因此,通过分析次级X射线,可以确定任何未知材料的化学组成。然而,应该注意的是,XRF不能区分某些元素如碳和硅等材料等级。
OES通过将材料暴露于电火花和电极,通常在氩气氛中。这种火花以与X射线类似的方式工作,因为它迫使材料发光,这将基于其从其发射的材料而不同的颜色和强度。它倾向于提供比XRF更完整的视图,并且是唯一可以区分材料中碳水平的唯一方法。虽然OES被认为是一种非破坏性方法,但它需要研磨用于表面制备的材料,并且该方法也会导致表面轻微燃烧。
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